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Examinando por Materia "Fotoluminiscencia"

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    PublicaciónAcceso abierto
    Estudio de pozos cuánticos por fotoluminiscencia
    (Universidad de La Guajira, 2022) Bertel Palencia, Ramón de Jesús; Zambrano Rojas, Samuel Eligio; Prías Barragán, Jhon Jairo
    Los pozos cuánticos de InGaAs/InAlAs tienen un enorme potencial como láseres de semiconductores, pero factores como rugosidad de las interfases, defectos internos, presiones localizadas o campos eléctricos locales, alteran el ancho del haz de luz láser con la consiguiente pérdida de intensidad y coherencia. El ensanchamiento puede ser de dos tipos, homogéneo e inhomogéneo. El primero de ellos se presenta a igual frecuencia de la luz láser y el segundo a distinta frecuencia, siendo por consiguiente el más indeseado. En este trabajo se estudió el ensanchamiento inhomogéneo del haz de luz a través de un análisis por fotoluminiscencia del ancho de los espectros a distintas temperaturas y distintas potencias de la fuerza excitatriz sobre muestras de heteroestructuras semiconductoras de InGaAs/InAlAs.
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    PublicaciónAcceso abierto
    Mapeamiento por fotoluminiscencia de substratos semiconductores de GaAs y InP dopados y no dopados.
    (Universidad de La Guajira, 2019) Jácome Mejía, Jesús Alfonso; Zambrano Rojas, Samuel
    En este trabajo de investigación se hizo un estudio utilizando la técnica de caracterización óptica de fotoluminiscencia (PL) a temperatura ambiente (300ºK). Se analizaron muestras semiconductoras de GaAs e InP dopadas y no dopadas con un equipo de mapeamiento rápido por fotoluminiscencia (RPM2000). Se realizó un barrido sobre las muestras, del cual se obtuvieron resultados para los parámetros: longitud de onda del pico máximo, intensidad del pico máximo, el ancho espectral a la mitad de la altura máxima (FWHM) y la señal integrada para todas las muestras. Haciendo un proceso de decapado químico mejoraron las mediciones, debido a que las muestras al estar expuestas al medio ambiente en condiciones normales, se contaminan con la humedad, carbono y el oxígeno originándose en estas un proceso de envejecimiento formando una capa de óxido superficial que debe ser removida, ya que la respuesta óptica de un material envejecido genera defectos y bandas muy anchas de PL. A partir de la técnica de fotoluminiscencia aplicada a las muestras semiconductoras se encontró información vital sobre la uniformidad de la composición del dopamiento, la calidad del material y los defectos de la misma.